试错成本：在“从0到1”阶段，试错成本低，负责人可以慢慢悟；但在“从1到N”阶段，一次决策失误可能导致股价崩盘或资金链断裂。企业赌不起负责人“悟道”成功的可能性。
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[8] R. Ulichney: “The void-and-cluster method for dither array generation” (1993). ↑